本文件描述了在传导射频(RF)骚扰存在的情况下利用大电流注入(BCI)法测量集成电路(IC)抗扰度的试验方法,例如,由辐射RF骚扰引起的传导RF骚扰。这种方法仅用于有板外连线的IC,例如连接到电缆束。本试验方法把RF电流注入到一根或一组线缆。
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