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通用集成电路卡(UICC)与终端间大容量存储接口特性测试方法 第2部分:UICC

标 准 号: YD/T 3037.2-2023
替代情况: 替代 YD/T 3037.2-2016
发布单位: 中华人民共和国工业和信息化部
起草单位: 中国信息通信研究院 等
发布日期: 2023-12-20
实施日期: 2024-04-01
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更新日期: 2025年05月16日
下载地址:点击这里 12.06MB
下载点数:30点(VIP会员免费)
内容摘要

本文件规定了通用集成电路卡(UICC)与终端间大容量存储接口特性的UICC部分测试方法,主要包括:物理特性、电气特性、初始通信协议的建立、功能测试和性能测试。
本文件适用于支持大容量存储接口的UICC卡的研发和生产。

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